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正交级数几乎必然收敛的完整刻画

概率论 2013-03-20 v1

摘要

本文证明了正交级数几乎必然收敛的完整刻画,该刻画以优势测度的存在性为条件。这意味着,对于给定的 (an)n=1(a_n)^{\infty}_{n=1}an>0a_n>0,级数 n=1anφn\sum^{\infty}_{n=1}a_n\varphi_n 对每个标准正交序列 (φn)n=1(\varphi_n)^{\infty}_{n=1} 几乎处处收敛当且仅当存在一个测度 mm 定义在 T={0}{n=1man2,m1}T=\{0\}\cup\Biggl\{\sum^m_{n=1}a_n^2,m\geq 1\Biggr\} 上,使得 suptT0D(T)(m(B(t,r2)))1/2dr<,\sup_{t\in T}\int^{\sqrt{D(T)}}_0(m(B(t,r^2)))^{-{1}/{2}}\,dr<\infty, 其中 D(T)=sups,tTstD(T)=\sup_{s,t\in T}|s-t|B(t,r)={sT:str}B(t,r)=\{s\in T:|s-t|\leq r\}。所提出的方法基于弱优势测度和某种划分方案。

关键词

引用

@article{arxiv.1303.4547,
  title  = {The complete characterization of a.s. convergence of orthogonal series},
  author = {Witold Bednorz},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1303.4547},
  year   = {2013}
}

备注

Published in at http://dx.doi.org/10.1214/11-AOP712 the Annals of Probability (http://www.imstat.org/aop/) by the Institute of Mathematical Statistics (http://www.imstat.org)