关于Blasius剖面的全局-in-$x$稳定性
偏微分方程分析
2018-12-11 v1
摘要
我们将著名的自相似Blasius剖面刻画为二维定常Prandtl方程组解的下游吸引子。文献\cite{Serrin}已确立(当)。我们的结果在Blasius附近局部化数据的情形下推进了\cite{Serrin}的工作,建立了更强范数下的收敛并刻画了衰减率。我们分析的核心是一个“除法估计”,其又基于引入一个新量,该量对Blasius解全局非负。结合能量级联与一个新的加权Nash型不等式,这些要素给出了与在范数下以本质上最预期的锐率收敛。
引用
@article{arxiv.1812.03906,
title = {On Global-in-$x$ Stability of Blasius Profiles},
author = {Sameer Iyer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1812.03906},
year = {2018}
}