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关于Blasius剖面的全局-in-$x$稳定性

偏微分方程分析 2018-12-11 v1

摘要

我们将著名的自相似Blasius剖面[uˉ,vˉ][\bar{u}, \bar{v}]刻画为二维定常Prandtl方程组解[u,v][u,v]的下游吸引子。文献\cite{Serrin}已确立uuˉLy0\| u - \bar{u}\|_{L^\infty_y} \rightarrow 0(当xx \rightarrow \infty)。我们的结果在Blasius附近局部化数据的情形下推进了\cite{Serrin}的工作,建立了更强范数下的收敛并刻画了衰减率。我们分析的核心是一个“除法估计”,其又基于引入一个新量Ω\Omega,该量对Blasius解全局非负。结合能量级联与一个新的加权Nash型不等式,这些要素给出了uuˉu - \bar{u}vvˉv - \bar{v}Wk,pW^{k,p}范数下以本质上最预期的锐率收敛。

关键词

引用

@article{arxiv.1812.03906,
  title  = {On Global-in-$x$ Stability of Blasius Profiles},
  author = {Sameer Iyer},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1812.03906},
  year   = {2018}
}