向列相液晶 $Q$-张量理论中的半整数点缺陷

G. Di Fratta; JM Robbins; V. Slastikov; A. Zarnescu

doi:10.1007/s00332-015-9271-8

向列相液晶 $Q$-张量理论中的半整数点缺陷

偏微分方程分析 2015-09-30 v2 材料科学斑图形成与孤子

作者: G. Di Fratta , JM Robbins , V. Slastikov , A. Zarnescu

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摘要

我们在 Landau-de Gennes 理论框架下，研究了二维液晶中点缺陷的典型剖面。利用指数为 $k/2$ 的缺陷所特有的边界条件，我们找到了一个由常微分方程组刻画的 Landau-de Gennes 能量临界点。在深向列相区域（ $b^2$ 很小），我们证明了该临界点是 Landau-de Gennes 能量的唯一全局最小值。我们更详细地研究了弹性常数 $L \to 0$ 的极限区域，在此获得了三个显式的点缺陷剖面，其中包括全局最小值。

关键词

landau-de gennes 理论向列相液晶点缺陷 q-张量全局最小值常微分方程

引用

@article{arxiv.1403.2566,
  title  = {Half-integer point defects in the $Q$-tensor theory of nematic liquid crystals},
  author = {G. Di Fratta and JM Robbins and V. Slastikov and A. Zarnescu},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1403.2566},
  year   = {2015}
}

备注

15 pages, 16 figures

向列相液晶 $Q$-张量理论中的半整数点缺陷

摘要

关键词

引用

备注

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