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二维向列相液晶半阶点缺陷轮廓的稳定性

偏微分方程分析 2016-01-13 v1

作者: Zhiyuan Geng , Wei Wang , Pingwen Zhang , Zhifei Zhang

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摘要

本文中，我们证明了在 Landau-de Gennes 模型下，二维欧氏空间 $\mathbb{R}^2$ 中向列相液晶的半阶点缺陷轮廓的稳定性。

关键词

稳定性半阶点缺陷向列相液晶 Landau-de Gennes模型 R^2 缺陷轮廓

引用

@article{arxiv.1601.02845,
  title  = {Stability of half-degree point defect profiles for 2-D nematic liquid crystal},
  author = {Zhiyuan Geng and Wei Wang and Pingwen Zhang and Zhifei Zhang},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1601.02845},
  year   = {2016}
}