液晶中缺陷图案从二维到三维的转变
软凝聚态物质
2015-10-16 v1
摘要
当向列相液晶在边界处受到拓扑约束时，会出现缺陷。近年来缺陷研究引起了广泛关注。本文在Landau-de Gennes模型下，研究了限制在壳层内的向列相液晶中二维缺陷与三维缺陷之间的关系。我们使用高精度谱方法数值求解Landau-de Gennes模型，以获得缺陷的详细静态结构。有趣的是，当壳层厚度足够小时，解是径向不变的。随着壳层厚度增加，解经历对称破缺以重新配置向错线。我们详细研究了不同边界条件下向错线的这种三维重配置。我们还讨论了张量模型下二维和三维空间中缺陷的拓扑电荷。
引用
@article{arxiv.1510.04391,
title = {Transition of defect patterns from 2D to 3D in liquid crystals},
author = {Yang Qu and Ying Wei and Pingwen Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1510.04391},
year = {2015}
}