通量融合异常检验与玻色型拓扑晶体绝缘体
强关联电子
2016-10-26 v2
摘要
我们引入一种称为通量融合异常检验（flux-fusion anomaly test）的方法，用于探测二维对称富集拓扑（SET）相中的某些异常对称分数量子化模式。我们聚焦于具有Z2拓扑序的玻色系统，以及形式为 G = U(1) G' 的对称群，其中G'为可能包含空间对称和/或时间反演的任意群。我们识别出的异常分数量子化模式不能在严格的d=2系统中出现，但可出现在d=3对称保护拓扑（SPT）相的表面。这一观察引出了d=3玻色型拓扑晶体绝缘体（TCIs）的例子，据我们所知此前未被确认。在某些情况下，这些d=3玻色TCIs可在表面具有异常超流体，其特征是超流体涡旋在对称下发生非平凡射影变换。我们异常检验的基本思想是引入U(1)对称的通量，并表明某些分数量子化模式不能扩展为G'对称在通量上的一致作用。对于某些异常，这可用到d=1 SPT相的降维来描述。我们将该方法应用于几个具有非平凡异常的不同对称群，包括 G = U(1) X Z2T 和 G = U(1) X Z2P，其中Z2T和Z2P分别为时间反演和d=2反射对称。
引用
@article{arxiv.1508.00573,
title = {Flux-fusion anomaly test and bosonic topological crystalline insulators},
author = {Michael Hermele and Xie Chen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1508.00573},
year = {2016}
}
备注
18+13 pages, 4 figures. Significant changes to introduction, and other changes to improve presentation. Title shortened