随机 SIR 模型在随机键稀释晶格上的临界行为

本文研究了键稀释无序对随机 SIR 模型临界行为的影响。使用具有最近邻和次近邻相互作用的方形晶格进行了蒙特卡洛模拟。将淬火键稀释晶格无序引入系统，使其随时间演化。通过运用渗流理论和有限尺寸标度分析，我们估计了模型在不同键稀释率（$p$）下的临界阈值和主要临界指数比。对恢复个体的渗流簇平均大小和非渗流簇大小分布进行了分析，以确定模型的普适类。模拟结果强烈表明，根据所考虑的具体 $p$ 值，本模型属于一个不同于二维动力学渗流的新普适类。