基于光学显微镜的薄层GaSe薄片厚度估算

我们实现了三种不同的光学方法，用于定量评估转移到透明基底（如Gel-Film）或SiO2/Si基底上的薄层GaSe薄片的厚度。我们展示了其表观颜色如何成为一种快速粗略估算薄片厚度的有效方式。该方法在SiO2/Si基底上更为有效，因为相较于透明基底，此类基底上依赖于厚度的颜色变化更为显著。另一方面，对于透明基底，薄片在可见光光谱蓝光区的透射率可用于估算厚度。我们发现光谱蓝光部分的透射率以1.2%/nm的速率下降。在SiO2/Si上，薄片的厚度可通过将光学对比度光谱拟合至基于菲涅耳定律的模型来精确确定。最后，我们还展示了透射模式光学显微镜图像的定量分析如何成为一种快速探测暴露于老化条件下的GaSe薄片环境降解的有力方法。