通过反射光谱测定少层石墨烯的光学指数
介观与纳米尺度物理
2016-09-30 v1 材料科学
摘要
我们通过可见光波段的反射光谱实验研究了少层石墨烯的光学折射率。使用配备相干超连续激光光源的激光扫描显微镜 (LSM)，在激光波长从 545nm 变化到 710nm 时，测量了 Si/SiO2 衬底上剥离石墨烯薄片（包含单层、双层和三层区域）的反射率。利用相对于裸衬底的反射率对比度和菲涅尔反射理论，提取了少层石墨烯的复折射率 。由于 SiO2 厚度作为参数进入模型，我们在样品位置对其进行了精确测量。研究发现，一个通用的常数光学指数无法同时解释单层、双层和三层石墨烯的波长依赖性反射率数据；相反，每种独立的少层石墨烯都具有独特的光学指数，其复数值已从实验数据中精确且准确地确定。
引用
@article{arxiv.1210.0575,
title = {Determination of the Optical Index for Few-Layer Graphene by Reflectivity Spectroscopy},
author = {Behnood G. Ghamsari and Jacob Tosado and Mahito Yamamoto and Michael S. Fuhrer and Steven M. Anlage},
journal= {arXiv preprint arXiv:1210.0575},
year = {2016}
}