石墨烯及石墨烯层的瑞利成像
材料科学
2008-01-07 v1
摘要
我们利用单色光和白光共焦瑞利散射显微镜研究了不同基底上的石墨烯及石墨烯层。图像衬度敏感地依赖于样品的介电性质以及基底几何结构，并且可以使用体石墨的复折射率进行定量描述。对于少数层（<6），单色衬度随厚度线性增加：样品表现为单层的叠加，这些单层充当独立的二维电子气。因此，瑞利成像是一种识别石墨烯层的通用、简单且快速的工具，易于与拉曼散射结合，从而提供结构鉴定。
引用
@article{arxiv.0705.2645,
title = {Rayleigh Imaging of Graphene and Graphene Layers},
author = {C. Casiraghi and A. Hartschuh and E. Lidorikis and H. Qian and H. Harutyunyan and T. Gokus and K. S. Novoselov and A. C. Ferrari},
journal= {arXiv preprint arXiv:0705.2645},
year = {2008}
}
备注
8 pages, 9 figures