利用光学克尔效应法测量石墨烯的非线性折射率
光学
2016-08-02 v1
摘要
借助耦合光外差探测（OHD-OKE）的超快光学克尔效应法，我们表征了石墨烯在电信波长下的三阶非线性响应，并将其与在相同样品上通过 Z-scan 方法获得的实验值进行了比较。根据这些测量，我们估计单层石墨烯的非线性折射率为负值，。这与先前报道的值相矛盾，这促使我们将通过 OHD-OKE 和 Z-scan 方法获得的实验测量值与文献中的理论和实验值进行比较，并在考虑掺杂等参数的情况下讨论其差异。
引用
@article{arxiv.1607.00911,
title = {Measuring the Nonlinear Refractive Index of Graphene using the Optical Kerr Effect Method},
author = {Evdokia Dremetsika and Bruno Dlubak and Simon-Pierre Gorza and Charles Ciret and Marie-Blandine Martin and Stephan Hofmann and Pierre Seneor and Daniel Dolfi and Serge Massar and Philippe Emplit and Pascal Kockaert},
journal= {arXiv preprint arXiv:1607.00911},
year = {2016}
}
备注
To be published in Optics Letters