对“人工超材料中的负折射率”的评论 [A. N. Grigorenko, Opt. Lett., 31, 2483 (2006)]
光学
2009-11-13 v1
摘要
表征复合材料薄层中负折射存在的一个关键光学参数是等效均匀化层的有效折射率，该层与初始非均匀复合材料具有相同的物理厚度。测量复透射和反射系数是获得该参数最严格的方法之一。我们质疑 Grigorenko 的陈述（Optics Letters 31, 2483 (2006)），即仅测量反射强度谱就足以确定有效折射率。我们讨论了 Grigorenko 技术的根本缺陷，该技术使用先验指定的色散行为对给定超材料进行最佳拟合近似，并使用小于样品实际厚度的“有效光学厚度”。我们的模拟结果不证实 Grigorenko 论文关于纳米柱样品在可见光谱范围内具有负折射率和负磁导率的结论。
引用
@article{arxiv.physics/0609234,
title = {Comment on "Negative Refractive Index in Artificial Metamaterials" [A. N. Grigorenko, Opt. Lett., 31, 2483 (2006)]},
author = {Alexander V. Kildishev and Vladimir P. Drachev and Uday K. Chettiar and Douglas Werner and Do-Hoon Kwon and Vladimir M. Shalaev},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0609234},
year = {2009}
}
备注
18 pages, 7 figures