快速可靠地识别原子级薄层TaSe2晶体
介观与纳米尺度物理
2014-02-18 v2 材料科学
摘要
通过机械剥离层状块体材料，在表面上沉积洁净无缺陷的原子级薄二维晶体薄片已被证明是一种强大的技术，但这需要一种快速、可靠且无损的方法来在众多厚薄片中识别出原子级薄片。本工作提供了通过光学显微镜和拉曼光谱识别TaSe2超薄薄片的一般性指导。此外，我们确定了促进原子级薄TaSe2晶体光学识别的最佳衬底。TaSe2超薄层的实验实现与分离使得未来能够研究维度在超导电性和电荷密度波等有趣现象中的作用。
引用
@article{arxiv.1302.2883,
title = {Fast and reliable identification of atomically thin layers of TaSe2 crystals},
author = {Andres Castellanos-Gomez and Efrén Navarro-Moratalla and Guillermo Mokry and Jorge Quereda and Elena Pinilla-Cienfuegos and Nicolás Agraït and Herre S. J. van der Zant and Eugenio Coronado and Gary A. Steele and Gabino Rubio-Bollinger},
journal= {arXiv preprint arXiv:1302.2883},
year = {2014}
}
备注
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