原子级薄二硫属化物晶体的光学识别
介观与纳米尺度物理
2010-06-23 v2
摘要
我们对沉积在带有热生长SiO2层的硅晶圆上的二硒化铌(NbSe2)和二硫化钼(MoS2)薄片的光学对比度进行了系统研究。我们使用可见光谱中不同波长的照明，测量了厚度从200层到单层的薄片的光学对比度。通过基于菲涅耳定律的简单模型，根据测量的光学对比度对薄片厚度的依赖关系，获得了这些薄晶体的折射率。利用这些NbSe2和MoS2晶体的折射率，可以定量分析光学显微镜数据，以快速且非破坏性地确定薄片的厚度。
引用
@article{arxiv.1003.2602,
title = {Optical identification of atomically thin dichalcogenide crystals},
author = {Andres Castellanos-Gomez and Nicolas Agraït and Gabino Rubio-Bollinger},
journal= {arXiv preprint arXiv:1003.2602},
year = {2010}
}
备注
8 pages, 3 figures and 3 supplemental figures