利用光学显微镜快速可靠地识别二维纳米片厚度
材料科学
2013-10-28 v1
摘要
超薄二维 (2D) 层状纳米材料的物理和电子性质与其厚度密切相关。因此，快速准确地识别单层至多层的纳米片对于其基础研究和实际应用至关重要。本文开发了一种通用的光学方法，用于简单、快速且可靠地识别涂覆有 90 nm 或 300 nm SiO2 的 Si 衬底上的单层至十五层 (1L-15L) 二维纳米片，包括石墨烯、MoS2、WSe2 和 TaS2。收集并列出了不同层数的二维纳米片与衬底之间的光学对比度差异，作为标准参考，据此无需复杂计算或昂贵仪器即可轻松可靠地确定给定纳米片的层数。我们这种通用的光学识别方法将促进各种二维纳米材料的厚度依赖性研究，并加速其面向实际应用的研究进程。
引用
@article{arxiv.1310.6863,
title = {Rapid and reliable thickness identification of two-dimensional nanosheets using optical microscopy},
author = {Hai Li and Jumiati Wu and Xiao Huang and Gang Lu and Jian Yang and Xin Lu and Qihua Xiong and Hua Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1310.6863},
year = {2013}
}
备注
49 pages, 20 figures ACS Nano, 2013