基于光学显微镜的二维材料层数识别通用参数
光学
2022-09-12 v1 介观与纳米尺度物理
材料科学
摘要
光学对比度是识别二维（2D）材料层数最常用的初步方法，但很少被用作确认性技术。我们解释了不同成像系统间光学对比度差异的原因。我们引入了一种通用方法，利用RGB（红绿蓝）和RAW光学图像来量化层数。对于RGB图像，通过改变光源功率从光学图像中提取二维薄片（MoS2、WSe2、石墨烯）强度与衬底强度的斜率。该强度斜率可识别层数且与系统无关。对于RAW图像，强度斜率和强度比完全独立于系统和光源强度。因此，强度斜率（对于RGB）和强度比（对于RAW）是识别层数的通用参数。基于菲涅尔反射的光学模型与实验吻合良好。此外，我们创建了一个基于MATLAB的图形用户界面，可快速识别层数。该技术有望加速异质结构的制备，并满足对通用光学对比度方法的长期需求。
引用
@article{arxiv.2204.12745,
title = {Optical microscope based universal parameter for identifying layer number in two-dimensional materials},
author = {Mainak Mondal and Ajit Kumar Dash and Akshay Singh},
journal= {arXiv preprint arXiv:2204.12745},
year = {2022}
}