利用反射光谱指纹可靠且宽范围识别Au辅助剥离大面积MoS$_2$和WS$_2$的层数
材料科学
2022-05-12 v2
摘要
新兴的Au辅助剥离技术相比传统胶带剥离提供了大量大面积、高质量的超薄二维（2D）材料。快速、无损且可靠地确定此类2D薄膜的层数，对于研究层数依赖的物理性质并推动器件应用至关重要。本文开发了一种光学方法，用于简单、高通量且准确地确定Au辅助剥离的MoS和WS薄膜在宽厚度范围内的层数。该方法基于对层数依赖的白光反射光谱的定量分析，揭示反射峰强度可用作确定层数的明确指标。这种简单而稳健的方法将促进对2D材料层数依赖的光学、电学和热学性质及器件应用的基础研究。该技术也可轻易与光致发光和拉曼光谱结合，以研究2D材料其他层数依赖的物理性质。
引用
@article{arxiv.2205.01963,
title = {Reliable and Broad-range Layer Identification of Au-assisted Exfoliated Large Area MoS$_2$ and WS$_2$ Using Reflection Spectroscopic Fingerprints},
author = {Bo Zou and Yu Zhou and Yan Zhou and Yanyan Wu and Yang He and Xiaonan Wang and Jinfeng Yang and Lianghui Zhang and Yuxiang Chen and Shi Zhou and Huaixin Guo and Huarui Sun},
journal= {arXiv preprint arXiv:2205.01963},
year = {2022}
}