微反射与透射光谱：表征二维材料的通用有力工具
介观与纳米尺度物理
2017-03-08 v1 材料科学
仪器与探测器
摘要
诸如微分反射和透射等光谱技术已被证明是研究二维材料的强大技术。然而，文献中缺乏对这些测量所需实验装置的详尽描述。我们描述了一种通用的光学显微镜装置，用于在可见和近红外光谱范围内对二维材料进行具有约 1 微米横向分辨率的微分反射和透射光谱测量。我们展示了该装置在确定二维材料层数以及表征其基本光学性质（如激子共振）方面的潜力。我们通过研究机械剥离和化学气相沉积的过渡金属硫族化物样品展示了其性能。
引用
@article{arxiv.1612.04145,
title = {Micro-reflectance and transmittance spectroscopy: a versatile and powerful tool to characterize 2D materials},
author = {Riccardo Frisenda and Yue Niu and Patricia Gant and Aday J. Molina-Mendoza and Robert Schmidt and Rudolf Bratschitsch and Jinxin Liu and Lei Fu and Dumitru Dumcenco and Andras Kis and David Perez De Lara and Andres Castellanos-Gomez},
journal= {arXiv preprint arXiv:1612.04145},
year = {2017}
}
备注
5 main text figures + 1 table with all the part numbers to replicate the experimental setup + 4 supp. info. figures