基于 UV/VIS 光谱的半导体二维纳米材料可重复分析算法
介观与纳米尺度物理
2024-07-17 v2
摘要
对二维材料液体分散液的快速可靠分析对于充分发挥其潜力至关重要，可在后续加工或器件制造之前进行尺寸与质量验证。现有的基于 UV-VIS 消光光谱的度量指标，特别是与厚度相关的指标，已展现出前景，但依赖于手动数据处理，这可能引入不可重复性和用户误差。为应对这一挑战并实现跨实验室的统一分析，开发了一个用于可重复分析纳米片分散液的免费可用程序。具体而言，对光谱数据应用平滑处理，求二阶导数，并利用积分面积来寻找激子跃迁的波长。该程序能够通过 UV-VIS 光谱快速测量纳米片的浓度、长度和厚度，并针对八种常见的二维纳米材料改进了厚度度量指标。该程序和方法可免费使用，并允许未来轻松实现新材料度量指标的引入。
引用
@article{arxiv.2402.08517,
title = {Algorithm for Reproducible Analysis of Semiconducting 2D Nanomaterials Based on UV/VIS Spectroscopy},
author = {Nico Kubetschek and Claudia Backes and Stuart Goldie},
journal= {arXiv preprint arXiv:2402.08517},
year = {2024}
}
备注
17 pages, 6 figures