非厄米特电路中的混合偏折皮肤-拓扑效应

Bulk-disclination correspondence（BDC）是厄米特系统中已广泛应用的基本概念，用于预测偏折态。最近，偏折态也在具有 C6 晶格对称性的非厄米特系统中被观察到并实验验证，其中引入增益和损耗以诱导非厄米性。在本文中，我们提出了一个具有皮肤-拓扑（ST）偏折态的非厄米特二维（2D）Su-Schrieffer-Heeger（SSH）偏折模型，并计算其双正交 Zak 相位。结合实数空间偏折指数，我们预测在 C4 对称非厄米晶格中出现偏折态以及相应的分数电荷。我们还在双正交框架内推广了对称性指示器，以预测偏折核心附近的异常填充。实验上，我们的模型在非偏置电路平台上实现，其中我们分析由复特征频率描述的阻抗矩阵，并直接观察到 ST 偏折态。我们的工作进一步将 bulk-disclination correspondence 拓展到非厄米领域。