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无序拓扑陈绝缘体的纠缠谱

介观与纳米尺度物理 2010-09-08 v2 量子物理

摘要

一个没有任何对称性的系统的基态中存储了多少信息,我们又如何提取它?我们通过分析存在无序时拓扑陈绝缘体的行为来研究这个问题,重点关注从基态构建的纠缠谱。对于具有对称性的系统,纠缠谱被证明包含通过根据守恒量子数对纠缠谱进行分类而揭示的显式信息。在没有任何对称性的情况下,我们证明诸如纠缠谱的能级统计等统计方法同样具有洞察力,使我们能够区分绝缘体处于拓扑相还是平庸相,并描绘两相之间的边界,在边界处纠缠谱完全离域。我们使用纠缠谱和能谱的能级统计,结合通过高效实空间公式计算的陈数,显式计算了作为费米能级和无序强度函数的陈绝缘体相图。

关键词

引用

@article{arxiv.1005.5148,
  title  = {Entanglement Spectrum of a Disordered Topological Chern Insulator},
  author = {Emil Prodan and Taylor L. Hughes and B. Andrei Bernevig},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1005.5148},
  year   = {2010}
}

备注

4.2 pages, 3 figures