SmB$_6$表面电导率的系统性调控

我们表明，SmB$_6$在低温下的电阻率平台——通常被视为其导电表面态的标志——可受不同表面处理的系统性影响。我们研究了在助熔剂生长的Sm$_{1-x}$Gd$_x$B$_6$（$x =$ 0、0.0002）表面上施加数量递增的手工划痕与显微定义的聚焦离子束切割沟槽所产生的效应。两种处理均提高了低温平台的电阻，而较高温度下的体电阻基本不受影响。值得注意的是，电阻偏离热激活行为的温度随表面损伤的累积而降低。这些特征在聚焦离子束处理的样品中更为显著，其差异可能与 subsurface 裂纹等微观缺陷的缺失有关。因此，我们的方法提供了一种调控表面电导的系统性途径。