关于“SmB6体热力学测量与低温电阻平台相关性”的评论
材料科学
2015-03-16 v1
摘要
在单晶中观察到的低温电阻平台源于表面而非体导电，这已通过电输运测量得到证实。最近，人们研究了体热力学测量与低温电阻平台之间的相关性，并通过X射线吸收谱和X射线磁圆二色性获得了表面Sm价态的变化。在此我们指出，该报告的结论并未得到X射线吸收谱和X射线磁圆二色性结果的支持。
引用
@article{arxiv.1503.03901,
title = {Comment on "Correlation between Bulk Thermodynamic Measurements and the Low-Temperature-Resistance Plateau in SmB6"},
author = {Kai Chen and Jean-Paul Kappler},
journal= {arXiv preprint arXiv:1503.03901},
year = {2015}
}
备注
2 pages, 1 figure, comments