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满足一阶线性偏微分方程约束的测度维数的初等方法

偏微分方程分析 2018-12-20 v1

摘要

我们给出正 Radon 测度 μ\mu 的概率切测度集 Tan(μ,x)\mathrm{Tan}(\mu,x) 的一个简单判据,由此得到 μ\mu 的 Hausdorff 维数的下界。作为一个应用,我们给出了一阶线性 PDE 约束测度的尖锐 Hausdorff 维数下界的初等的纯代数证明;进一步讨论了闭(测度)微分形式与法向流的界。还讨论了此类测度在 [Ann. Math. 184(3) (2016), pp. 1017-1039] 精神下的一个弱结构定理。

关键词

引用

@article{arxiv.1812.07629,
  title  = {An elementary approach to the dimension of measures satisfying a first-order linear PDE constraint},
  author = {Adolfo Arroyo-Rabasa},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1812.07629},
  year   = {2018}
}

备注

10 pages