$RCD^*(K,N)$ 度量测度空间上的 Weyl 律
微分几何
2020-02-07 v5 偏微分方程分析
度量几何
摘要
本文将在广义 Ricci 曲率有下界的度量测度空间上，证明关于 Dirichlet 特征值渐近公式的 Weyl 律。
引用
@article{arxiv.1701.01967,
title = {Weyl's law on $RCD^*(K,N)$ metric measure spaces},
author = {Hui-Chun Zhang and Xi-Ping Zhu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1701.01967},
year = {2020}
}
备注
We add some details and update some remarks and the references. The final version