具有非均匀体厚度的可缩放 GaSb/InAs 隧穿场效应晶体管
介观与纳米尺度物理
2016-12-01 v1
摘要
GaSb/InAs 异质结隧穿场效应晶体管是构建未来低功耗集成电路的有力候选者,因为它们可以同时提供陡峭的亚阈值摆幅和大的导通态电流 ()。然而,在短沟道长度下,由于 InAs 沟道的小带隙和小有效质量,它们会产生较大的隧穿漏电流。如本文所提出的,通过减小沟道厚度同时保留厚的源-沟道隧穿结,可以显著缓解这一问题,从而形成一种具有非均匀体厚度的设计。由于量子限制效应,薄的 InAs 沟道提供了大的带隙和大的有效质量,从而减小了关断态下的双极性和源漏隧穿漏电流。相反,厚的 GaSb/InAs 隧穿结提供了低隧穿势垒和小有效质量,使得在导通态下具有大的隧穿概率。此外,限制引起的能带不连续性增强了隧穿电场并产生了共振态,进一步提高了 。原子级量子输运模拟表明,在 15nm 沟道长度下,弹道 A/m,A/m,V。而在均匀体厚度下,可达到的最大 仅为 25A/m。模拟还表明,该设计可缩放至 10nm 以下的沟道长度。
引用
@article{arxiv.1607.04896,
title = {Scalable GaSb/InAs tunnel FETs with non-uniform body thickness},
author = {Jun Z. Huang and Pengyu Long and Michael Povolotskyi and Gerhard Klimeck and Mark J. W. Rodwell},
journal= {arXiv preprint arXiv:1607.04896},
year = {2016}
}
备注
4 pages, 8 figures