p+-Al0.3Ga0.7Sb 口袋注入 L 形 GaSb/InAs 异质结垂直 n-TFET
材料科学
2014-08-19 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
在本工作中,我们研究了具有 4 nm 薄沟道结构和 20 nm 栅长的 p+-Al0.3Ga0.7Sb 口袋注入 L 形 GaSb/InAs 交错带隙 (SG) 异质结垂直 n 沟道隧穿场效应晶体管 (TFET) 的性能。在这种 L 形非线性几何结构中,栅电场与隧穿结内场方向一致。我们使用了一种基于 3D 全带原子 sp3d5s 自旋轨道耦合紧束缚方法的量子力学模拟器。我们研究了在非线性 L 形 TFET 中,作为等效氧化层厚度、栅长、漏极长度、栅底切、介电常数和 InAs 漏极厚度函数的电流 - 电压特性、开态电流、关态电流和亚阈值摆幅,旨在实现低亚阈值摆幅和低电压操作。
引用
@article{arxiv.1408.3793,
title = {p+-Al0.3Ga0.7Sb Pocket-Implanted L-shaped GaSb/InAs Heterojunction Vertical n-TFETs},
author = {Bhupesh Bishnoi and Bahniman Ghosh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1408.3793},
year = {2014}
}
备注
There are 26 pages and 16 figures. arXiv admin note: substantial text overlap with arXiv:1408.2641