通过拓扑光子学与涨落电动力学之间的联系证明体边对应
光学
2019-03-06 v2
摘要
体边对应将陈拓扑数与相关材料界面处支持的非互易态净数量联系起来。这一基本原理或许是拓扑光子学最具重要意义的结果，因其决定了非平凡拓扑特征的精确物理表现。尽管体边对应已在文献中被广泛讨论和使用，但在具有色散材料的普遍光子学情形中，它似乎缺乏坚实的数学基础，本质上是一个猜想。在此，我通过表明封闭腔中热涨落诱导的光角动量谱密度可用光子带隙陈数以及非互易边缘态净数量表示，对该基本原理给出严格论证。特别地，我强调了陈型光子绝缘体中的拓扑数与涨落诱导光动量之间相当基本的联系。
引用
@article{arxiv.1804.02190,
title = {Proof of the bulk-edge correspondence through a link between topological photonics and fluctuation-electrodynamics},
author = {Mario G. Silveirinha},
journal= {arXiv preprint arXiv:1804.02190},
year = {2019}
}
备注
to be published in PRX