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从 Sylvester-Gallai 构型到秩界:深度 3 电路的改进黑盒恒等测试

计算复杂性 2010-02-09 v2 离散数学

摘要

我们研究了顶部扇入为 kk、次数为 dd 的深度 3 电路的恒等测试问题。我们给出了此类恒等式的一个新结构定理。该定理的一个直接应用将有理数上已知的确定性 dkkd^{k^k} 时间黑盒恒等测试(Kayal-Saraf, FOCS 2009)改进为 dk2d^{k^2} 时间。我们的结构定理本质上说明,实深度 3 恒等式中的独立变量数量非常少。该定理肯定地解决了 Dvir-Shpilka (STOC 2005) 和 Kayal-Saraf (FOCS 2009) 提出的更强秩猜想。我们的技术提供了一个统一框架,实际上超越了所有已知的秩界,从而为黑盒恒等测试提供了最佳运行时间(对于每个域)。我们的主定理(几乎最优地)以一种非常透明的方式确定了高维 Sylvester-Gallai 定理与深度 3 恒等式秩之间的关系。Dvir-Shpilka (STOC 2005) 曾暗示了这种关系的存在,但首先由 Kayal-Saraf (FOCS 2009) 在实数上证明。我们引入了任意域上的 Sylvester-Gallai 秩界概念,并展示了其与深度 3 恒等式秩界之间的紧密联系。我们还证明了关于任意域上高维 Sylvester-Gallai 构型的首个定理。我们的证明和技术与先前结果截然不同,并设计了一个非常有趣的组合与代数结合体。后者的概念是理想论的,并涉及一个新的中国剩余定理。我们的证明方法解释了任何深度 3 恒等式 CC 的结构:CC 有一个构成低秩恒等式的核,而剩余部分是一个高维 Sylvester-Gallai 构型。

关键词

引用

@article{arxiv.1002.0145,
  title  = {From Sylvester-Gallai Configurations to Rank Bounds: Improved Black-box Identity Test for Depth-3 Circuits},
  author = {Nitin Saxena and C. Seshadhri},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1002.0145},
  year   = {2010}
}

备注

33 pages, 1 table, 3 figures