通过嵌入多个邻近小夹杂提取折射率
偏微分方程分析
2016-10-20 v5
摘要
我们处理从介质产生的远场重构材料系数的问题。通过将这些介质中位于这些材料支撑集上点 处嵌入小（单个）夹杂，并测量这些形变产生的远场，我们可以提取这些介质在点 处产生的总场的数值。第二步是从总场的这些内部值提取材料系数的数值。使用内部场的主要困难在于处理其可能的零点。在这项工作中，我们提议使用多个（确切地说是两个）邻近夹杂而非仅单个夹杂来使介质形变。通过这样做，我们从远场的渐近展开中推导出了格林函数的内部值，以及总场的内部值。这是因为具有多个邻近夹杂的介质形变由于这些夹杂之间的多次散射而产生散射场。然后，折射率的数值可以从格林函数的奇点提取。因此，我们克服了由内部场零点引起的困难。我们在存在由阻抗型小障碍物建模的夹杂时，针对折射率引起的声散射检验了这些论证。
引用
@article{arxiv.1505.04614,
title = {Extraction of the index of refraction by embedding multiple and close small inclusions},
author = {Ahmed Alsaedi and Faris Alzahrani and Durga Prasad Challa and Mokhtar Kirane and Mourad Sini},
journal= {arXiv preprint arXiv:1505.04614},
year = {2016}
}
备注
21pages, 2 figures; Comparing to the previous version, we slightly modified the presentation and added a new section, section 3, discussing the stability issue