测量诱导临界性处的纠缠负性
统计力学
2021-07-28 v1 无序系统与神经网络
强关联电子
量子物理
摘要
我们提出以纠缠负性作为测量诱导临界性的细粒度探针。我们在稳定子态中论证该提议：对于两个不相交子区域，比较其“互负性”与互信息可精确区分二体与多体纠缠。在一个精确映射为二维临界渗流的纯测量稳定子电路中，我们证明互信息与互负性在长距离下由具有不同标度维度的边界共形场支配。我们随后考虑一类“混合”电路模型，通过对纯测量电路施加复杂度递进的酉门扰动得到。尽管其他临界指数在各自临界点随酉门系综的不同选择而有明显变化，互负性的标度维度在极多混合电路中均为 3，这显著不同于渗流情形。我们将结果与可用几何最小割图像的极限情形进行对比。
引用
@article{arxiv.2012.00031,
title = {Entanglement Negativity at Measurement-Induced Criticality},
author = {Shengqi Sang and Yaodong Li and Tianci Zhou and Xiao Chen and Timothy H. Hsieh and Matthew P. A. Fisher},
journal= {arXiv preprint arXiv:2012.00031},
year = {2021}
}