用两次测量估计两量子比特系统的纠缠负度
量子物理
2019-01-04 v3
摘要
已有大量工作用于量化两量子比特量子态的纠缠，但可见以往工作均基于对考虑中量子态的两个或更多拷贝进行联合测量。本工作中，我们表明单个拷贝与两次测量足以估计诸如纠缠负度与并发度之类的纠缠量化量。为实现目标，我们建立了任意两量子比特态的部分转置结构物理近似的最小特征值与纠缠负度之间的关系。所推导关系使得利用仅带两个探测器的 Hong-Ou-Mandel 干涉仪在实验上估计纠缠负度成为可能。此外，我们推导了任意两量子比特态并发度的上界，并表明该上界可在实验中实现。我们进一步表明：（i）任意纯两量子比特态与（ii）一类特定的混合态即秩-2 准可蒸馏混合态的并发度，可用两次测量精确估计。
引用
@article{arxiv.1808.09745,
title = {Estimation of Entanglement Negativity of a Two-Qubit Quantum System With Two Measurements},
author = {Satyabrata Adhikari},
journal= {arXiv preprint arXiv:1808.09745},
year = {2019}
}
备注
6 pages, 2 figures, Published version