坏腔中测量诱导的两量子比特纠缠：基础与实践考量
量子物理
2015-06-04 v1
摘要
描述了一种在坏腔极限下两个量子比特与腔场耦合的纠缠产生协议。通过测量穿过腔的透射场的振幅，可以概率性地建立纠缠的自旋单态。讨论了基本限制和实际测量方案，并分析了耗散过程和量子比特不均匀性的影响。基于测量的协议提供了选择状态的判据，其不保真度与量子比特退相干速率成线性关系。
引用
@article{arxiv.1202.4854,
title = {Measurement-induced two-qubit entanglement in a bad cavity: Fundamental and practical considerations},
author = {Brian Julsgaard and Klaus Mølmer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1202.4854},
year = {2015}
}
备注
13 pages, 7 figures, submitted to Phys. Rev. A