基于测量的半导体自旋量子比特纠缠
量子物理
2024-07-17 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
基于测量的纠缠是一种通过伴随宇称测量的状态投影来纠缠量子系统的方法。我们推导了一个随机主方程，描述了一对硅双量子点翻转模式自旋量子比特的基于测量的纠缠，开发了数值模拟来建模这一过程，并探索了哪些修改能够使该协议在实验上实现。使用对应于当前量子比特和腔体设计的器件参数，我们预测纠缠保真度 61%。通过将腔体外耦合率提高十倍，我们能够在保持33%产率的同时获得模拟的 81%。
引用
@article{arxiv.2312.15493,
title = {Measurement-Based Entanglement of Semiconductor Spin Qubits},
author = {Remy L. Delva and Jonas Mielke and Guido Burkard and Jason R. Petta},
journal= {arXiv preprint arXiv:2312.15493},
year = {2024}
}