用范德堡法测定薄样品的拓扑性质
经典物理
2019-05-24 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
我们解决了通过在其外边缘上进行测量来确定扁平样品基本拓扑性质的问题。四探针电阻的全局最大值表现出一种依赖于区域亏格（即孔数）的特征行为。提出并讨论了将范德堡法推广到具有零个、一个或两个孔的区域。展示了测量凝聚态拓扑性质的可能性。给出了三连通区域的实验结果，并用两个孔存在所引起的连续对称性破缺加以解释。结果与 Hurwitz 关于黎曼面自同构数的拓扑定理一致。
引用
@article{arxiv.1905.09775,
title = {Determination of topological properties of thin samples by the van der Pauw method},
author = {Krzysztof R. Szymański and Cezary J. Walczyk and Jan L. Cieśliński},
journal= {arXiv preprint arXiv:1905.09775},
year = {2019}
}
备注
11 pages, 2 figures