随机量子电路中测量诱导相变的临界性质
无序系统与神经网络
2020-02-26 v2 统计力学
强关联电子
量子物理
摘要
我们在维中数值研究Haar随机量子电路的测量驱动量子相变。通过分析三分互信息，我们能够精确估计临界测量率。我们提取出与渗流及稳定子电路相应值一致的体临界指数估计，但不同于先前对Haar随机情形的估计。我们对表面序参量指数的估计似乎不同于稳定子电路或渗流的情形，但我们无法明确排除三种情形中所有指数均匹配的可能性。此外，在Haar情形下纠缠熵的 prefactor 强烈依赖于Rényi指数；对稳定子电路与渗流则无此依赖。稳定子电路的结果被用于指导我们的研究并识别有限尺寸效应弱的量度。我们讨论我们的数值估计如何约束该相变的理论。
引用
@article{arxiv.1911.00008,
title = {Critical properties of the measurement-induced transition in random quantum circuits},
author = {Aidan Zabalo and Michael J. Gullans and Justin H. Wilson and Sarang Gopalakrishnan and David A. Huse and J. H. Pixley},
journal= {arXiv preprint arXiv:1911.00008},
year = {2020}
}
备注
6 pages + Supplemental materials (Updated with published version)