离散 Pareto 分布的 Stein 表征型全检验
统计方法学
2026-05-08 v1 统计理论
统计理论
摘要
离散 Pareto(或 Zeta、Zipf)分布在语言学、人口学、生物学和计算机科学等领域的等级-频率数据建模中自然出现。尽管其应用广泛,但在重尾且无限支撑的情况下,对离散 Pareto 分布的似然拟合检验仍不成熟。本文引入了一种新型似然拟合检验,基于离散 Pareto 分布的新型 Stein 表征形式,该表征基于其概率生成函数构建。该方法适用于形参数数未知的情况,无需进行分箱或平滑处理。我们研究了该检验的渐近性质,并通过大量模拟实验评估其经验尺度和功效。结果表明,在各种备择方案下,所提出的检验要么显著优于现有方法,要么与之相当。我们还提供了针对真实数据集的实际应用案例,以展示其实用性和稳健性。
引用
@article{arxiv.2605.05744,
title = {A Stein Characterization-type Omnibus Tests for the Discrete Pareto Distribution},
author = {Deepesh Bhati and Bruno Ebner and Sakshi Khandelwal},
journal= {arXiv preprint arXiv:2605.05744},
year = {2026}
}
备注
24 pages, 4 tables, 2 figures