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针对完全数据和受限数据的 Pareto I 分布的非参数良好拟合度检验

统计方法学 2024-08-30 v1 统计理论 统计理论

摘要

提出两种新的针对 Pareto I 分布的非参数良好拟合度检验,适用于完全数据和右侧受限数据,基于 Steins 类型身份的固定点特征。在原假设和备择假设下,检验统计量的渐进分布被获得。通过蒙特卡罗模拟实验评估和比较了所提检验方法的性能。所提出的新检验在 Pareto I 分布情形下比现有检验具有更大的检验功效。最后,将该方法应用于真实数据集。

关键词

引用

@article{arxiv.2408.16384,
  title  = {Nonparametric goodness of fit tests for Pareto type-I distribution with complete and censored data},
  author = {Avhad Ganesh Vishnu and Ananya Lahiri and Sudheesh K. Kattumannil},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2408.16384},
  year   = {2024}
}

备注

33 Pages