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通过正则化方法研究四阶薄膜方程 Cauchy 问题的适定性

偏微分方程分析 2014-06-02 v2

摘要

本文致力于研究拟线性退化四阶抛物型薄膜方程 ut=(un\Du)u_{t} = -\nabla \cdot(|u|^{n} \nabla\D u)\ren×\re+\ren \times \re_+ 中、初始条件为 u(x,0)=u0(x)u(x,0)=u_0(x) (x\renx \in \ren) 的 Cauchy 问题适定性的某些方面,其中 n>0n>0 为固定指数,初始数据有界、光滑且具有紧支集。处理该 Cauchy 问题(至少对于 n(0,32)n \in (0, \frac 32))需要引入在有限界面附近振荡的无限变号解类。本文的主要目标是通过一致抛物解析 \e\e-正则化,至少对于足够接近 0 的参数 nn 值,探测退化 TFE--4 的 Cauchy 问题的适当解。

关键词

引用

@article{arxiv.1311.0712,
  title  = {Well-posedness of the Cauchy problem for a fourth-order thin film equation via regularization approaches},
  author = {Pablo Alvarez-Caudevilla and Victor A. Galaktionov},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1311.0712},
  year   = {2014}
}