Bi2Te3 薄膜层状结构中拓扑保护表面态的鲁棒性
介观与纳米尺度物理
2015-05-19 v1 材料科学
摘要
块体 Bi2Te3 已知是一种拓扑绝缘体。我们利用包含自旋-轨道耦合的密度泛函理论研究了 Bi2Te3(111) 薄膜的表面态。我们构建了一种方法，可以明确地识别薄膜拓扑绝缘体的表面态。将该方法应用于一至六个五重层的 Bi2Te3，我们发现表面态的拓扑性质随薄膜厚度保持鲁棒，并且三个或更多五重层的薄膜具有拓扑非平凡或受保护的表面态，这与最近的实验一致。
引用
@article{arxiv.1005.3476,
title = {Robustness of topologically protected surface states in layering of Bi2Te3 thin films},
author = {Kyungwha Park and J. J. Heremans and V. W. Scarola and Djordje Minic},
journal= {arXiv preprint arXiv:1005.3476},
year = {2015}
}
备注
4 pages, 2 figures, submitted to Phys. Rev. Lett