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闪存的重写码

信息论 2012-10-30 v1 math.IT

摘要

闪存是一种非易失性计算机存储器,由细胞块组成,其中每个细胞可以取 q 个不同的值或电平。虽然提高细胞电平很容易,但降低细胞电平只能通过擦除整个块来实现。由于块擦除是非常不可取的,因此设计了编码方案——称为浮点码(或闪存码)和缓冲码——以最大化在发生块擦除之前可以写入(和重写)闪存中信息的次数。一个 (n,k,t)q 闪存码 C 是一种编码方案,用于将 k 个信息位存储在 nn 个细胞中,使得任何多达 t 次的写入序列都可以在不进行块擦除的情况下被容纳。n 个细胞中可用的总电平转换次数为 n(q-1),而 C 的写入缺陷定义为 \delta(C) = n(q-1)-t,是衡量该码接近完美利用所有这些转换程度的指标。在本文中,我们展示了一种闪存码的构造,当 q \geq \log_2k 时,其写入缺陷为 O(qk\log k),否则至多为 O(k\log^2 k)。一个 (n,r,\ell,t)q 缓冲码是一种编码方案,用于存储 r 个 \ell 进制符号的缓冲区,使得对于任何 t 个符号的序列,都可以成功解码最后写入的 r 个符号。我们改进了在只有一个细胞用于存储缓冲区的情况下最大写入次数 t 的先前上界。然后,我们展示了如何改进 Jiang 等人提出的使用多个细胞(其中 n\geq 2r)的构造。

关键词

引用

@article{arxiv.1210.7515,
  title  = {Rewriting Codes for Flash Memories},
  author = {Eitan Yaakobi and Hessam Mahdavifar and Paul H. Siegel and Alexander Vardy and Jack K. Wolf},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1210.7515},
  year   = {2012}
}

备注

arXiv admin note: substantial text overlap with arXiv:0905.1512