二维$\mathbb Z_2$分数拓扑绝缘体
强关联电子
2014-12-10 v1
摘要
我们提出一个简单的微观模型，以数值研究二维分数拓扑绝缘体（FTI）的稳定性。FTI最简单的例子由两个具有相反手性的解耦拉夫林态副本组成。我们关注半填充下的玻色子。我们研究了在添加两种不同性质的耦合项时FTI相的稳定性：一项是自旋间相互作用项，另一项是在单粒子层面耦合副本的反演对称性破缺项。利用精确对角化和纠缠谱，我们数值上证明了FTI相对这两种微扰都是稳定的。我们将我们的系统与一个类似的双层分数陈绝缘体进行了比较。我们展示了证据，表明时间反演不变系统在引入相互作用耦合时，比时间反演对称性破缺系统能在更大尺度上存活，这强调了时间反演对称性在FTI相稳定性中的重要性。我们还讨论了之外可能的分数相。
引用
@article{arxiv.1402.2652,
title = {$\mathbb Z_2$ fractional topological insulators in two dimensions},
author = {C. Repellin and B. Andrei Bernevig and N. Regnault},
journal= {arXiv preprint arXiv:1402.2652},
year = {2014}
}
备注
15 pages, 18 figures