二维阿贝尔分数量子拓扑绝缘体的分类与分析
强关联电子
2013-05-30 v2
摘要
我们提出了一个用于分析二维中分数化、时间反演不变的电子绝缘体的一般框架。该框架适用于所有准粒子具有阿贝尔编织统计的绝缘体。首先，我们构造了能够描述这些态的最一般的陈-西蒙斯理论。然后，我们推导了这些系统具有受保护的无能隙边缘模（即，在不破坏时间反演或电荷守恒对称性的情况下无法被打开能隙的边缘模）的判据。具有受保护边缘模的系统可被视为拓扑绝缘体的分数化类比。我们证明了先前的二维分数量子拓扑绝缘体例子是该一般构造的特例。作为推导的一部分，我们定义了“局域克莱默简并”的概念，并证明了克莱默定理的局域版本。
引用
@article{arxiv.1205.1244,
title = {Classification and analysis of two dimensional abelian fractional topological insulators},
author = {Michael Levin and Ady Stern},
journal= {arXiv preprint arXiv:1205.1244},
year = {2013}
}
备注
19 pages, 2 figures, added reference, corrected typos