利用磁性边缘扰动探测分数量子拓扑绝缘体
介观与纳米尺度物理
2012-05-17 v1 强关联电子
摘要
我们讨论了分数量子拓扑绝缘体（FTI）的探测策略，该系统实现了 Laughlin 普适类下分数量子霍尔系统的时间反演不变类似物。聚焦于输运测量，我们研究了磁扰动对边缘模式的影响。我们发现，对于中等强度的耦合和边缘相互作用，这些模式对磁背散射表现出出乎意料的鲁棒性，从而允许出现标志着 FTI 相的各种相变。我们还描述了从带有磁体和量子点接触的装置的电导中提取表征该相的普适整数 和边缘相互作用参数的方案。
引用
@article{arxiv.1112.3859,
title = {Probing fractional topological insulators with magnetic edge perturbations},
author = {B. Béri and N. R. Cooper},
journal= {arXiv preprint arXiv:1112.3859},
year = {2012}
}
备注
4 pages, 2 figures