低阶面与边虚单元空间的插值及稳定性性质
数值分析
2021-11-30 v4 数值分析
摘要
我们分析了二维与三维低阶虚单元面与边空间的插值性质，这些空间将 Nédélec 与 Raviart-Thomas 多项式推广到多边形-多面体网格。此外，我们研究了相关 离散双线性形式的稳定性性质，这类形式通常出现在电磁学问题的虚单元离散中。
引用
@article{arxiv.2011.12834,
title = {Interpolation and stability properties of low order face and edge virtual element spaces},
author = {Lourenço Beirão da Veiga and Lorenzo Mascotto},
journal= {arXiv preprint arXiv:2011.12834},
year = {2021}
}