阿贝尔拓扑态中拓扑缺陷的分类
强关联电子
2014-01-17 v1
摘要
本文提出了 (2+1) 维阿贝尔拓扑态中点状和线状外在拓扑缺陷的最一般分类。我们首先将一般的外在缺陷映射为边界缺陷，然后对后者进行分类。基于此分类，最一般的点缺陷可被理解为拓扑不同边界区域之间的畴壁。我们表明，拓扑不同的边界本身可以通过某些相互玻色准粒子的最大子群（称为拉格朗日子群）进行分类。我们研究了点缺陷的拓扑性质，包括其量子维数、局域零模和投影编织统计。
引用
@article{arxiv.1304.7579,
title = {Classification of Topological Defects in Abelian Topological States},
author = {Maissam Barkeshli and Chao-Ming Jian and Xiao-Liang Qi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1304.7579},
year = {2014}
}
备注
5 pages (text + refs) + 2 pages appendix