KBr 薄膜的 X 射线衍射线形分析
材料科学
2017-10-27 v1
摘要
本工作中，通过评估衍射峰的展宽研究了 KBr 薄膜的微晶特征。采用 Williamson-Hall 法、尺寸-应变图法以及单线 Voigt 法，从展宽的 X 射线衍射峰中解卷积出有限晶粒尺寸与微应变贡献。沿各衍射峰测定了织构系数与位错密度。其他相关物理参数如应力、杨氏模量和能量密度也利用 Williamson-Hall 法的均匀应力-变形和均匀变形能量密度近似进行了估算。
引用
@article{arxiv.1710.09690,
title = {X-ray diffraction line profile analysis of KBr thin films},
author = {R. Rai and Triloki and B. K. Singh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1710.09690},
year = {2017}
}