计算弯曲晶体晶片弹性形变与X射线衍射性质的通用方法
仪器与探测器
2020-06-11 v1 材料科学
摘要
弯曲单晶在硬X射线波段的光谱仪设计中被广泛采用。由于其大立体角覆盖与聚焦特性，toroidally弯曲晶体在光子输出较低的应用中极为有用。球面弯曲晶体作为toroidally弯曲晶体的一个子类，尤其已应用于同步辐射与自由电子激光光源终端站的众多仪器中，也出现在重新兴起的高分辨率实验室尺度X射线光谱学领域。当追求最优光谱仪性能时，对此类晶体衍射性质的扎实理论理解至关重要。本工作中，我们提出一种计算toroidally弯曲晶体内部应力与应变场并据此预测其衍射性质的通用方法。鉴于其在当代仪器中的普遍性，推导并讨论了圆形与矩形球面弯曲晶片的求解。
引用
@article{arxiv.2006.04952,
title = {General method to calculate the elastic deformation and X-ray diffraction properties of bent crystal wafers},
author = {Ari-Pekka Honkanen and Simo Huotari},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.04952},
year = {2020}
}
备注
56 pages, 13 figures. Submitted to IUCrJ