用于高分辨率 X 射线光谱学的真空成型临时球面和环面弯晶分析仪
仪器与探测器
2018-09-17 v1 材料科学
摘要
我们证明，在可透 X 射线的柔性窗口下对各种晶向的 10 厘米直径硅片进行真空成型，可轻易生成球面弯晶分析仪（SBCA）和环面弯晶分析仪（TBCA），其能量分辨率约 1 eV、主曲率半径 1 m。在同步辐射光源、X 射线自由电子激光和实验室光谱仪中的应用里，这些特性通常足以满足化学科学中许多 X 射线吸收精细结构（XAFS）、X 射线发射光谱学（XES）和共振非弹性 X 射线散射（RIXS）应用的需求。不同于使用环氧或阳极键合的现有光学制造方法，无粘合剂的真空成型是临时性的，意指弯曲的硅片可在释放真空后取下并更换为不同晶向的硅片。因此，X 射线兼容的真空成型腔、薄硅片库以及少量具有不同次曲率的模具的组合，可赋予光谱仪能量范围极大的灵活性。作为该方法的验证，我们在基于常规 X 射线管的实验室 XAFS 和 XES 研究中测定了若干此类真空成型弯晶分析仪（VF-BCA）的能量分辨率和反射率。为完整起见，我们还展示了在探测器平面上收集的 X 射线图像，以表征所得焦点和光学像差。
引用
@article{arxiv.1809.05162,
title = {Vacuum Formed Temporary Spherical and Toroidal Bent Crystal Analyzers for High Resolution X-ray Spectroscopy},
author = {Evan P. Jahrman and William M. Holden and Alexander S. Ditter and Stosh A. Kozimor and Scott L. Kihara and Gerald T. Seidler},
journal= {arXiv preprint arXiv:1809.05162},
year = {2018}
}
备注
Submitted to Review of Scientific Instruments