利用漫散射观测 X 射线驱动的非热熔化
等离子体物理
2022-04-04 v3
摘要
我们展示了来自 SPring-8 Angstrom Compact free electron LAser (SACLA) XFEL 装置的结果，使用高强度（W/cm）X 射线泵浦 X 射线探测方案来观测硅的离子结构因电子受 X 射线加热而产生的变化。通过避开单晶样品散射信号中的劳厄斑点，我们观测到漫散射的快速上升，将其归因于晶格有序性的丧失以及在辐照后 100 fs 内转变为液态，该时间尺度与第一性原理模拟吻合良好，但快于纯惯性行为所预测者。该方法能够观测液体散射而无需对来自环境固体的信号进行掩蔽或滤波，从而允许在相变期间及之后测量液体结构。
引用
@article{arxiv.2007.15007,
title = {Using Diffuse Scattering to Observe X-Ray-Driven Nonthermal Melting},
author = {N. J. Hartley and J. Grenzer and L. Huang and Y. Inubushi and N. Kamimura and K. Katagiri and R. Kodama and A. Kon and W. Lu and M. Makita and T. Matsuoka and S. Nakajima and N. Ozaki and T. Pikuz and A. Rode and D. Sagae and A. K. Schuster and K. Tono and K. Voigt and J. Vorberger and T. Yabuuchi and E. E. McBride and D. Kraus},
journal= {arXiv preprint arXiv:2007.15007},
year = {2022}
}
备注
6 pages, 5 figures. Updated title and abstract